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簡(jiǎn)要描述：適用于汽車芯片可靠性測(cè)試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測(cè)試設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-04-02訪 問(wèn) 量：1242產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
HANWA HED-C5000R CDM測(cè)試設(shè)備
ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測(cè)試設(shè)備
HED-C5000R
Hanwa CDM測(cè)試機(jī)
l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l 可快速轉(zhuǎn)換不同標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試
l 臺(tái)式尺寸，緊湊，準(zhǔn)確可靠的CDM測(cè)試儀。
l 配備的CCD攝像機(jī)
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以測(cè)量每個(gè)引腳的電容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
此設(shè)備是用來(lái)測(cè)試接觸不同電位物質(zhì)時(shí)的破壞性設(shè)備
| 產(chǎn)品名/型號(hào) | 設(shè)備說(shuō)明 | 設(shè)備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-C5000R | 此設(shè)備是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 | click |
符合所有主要國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：
標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)版號(hào) | 模式 | 校準(zhǔn)工具 | |
1 | ESDA/JEDEC Joint Standard | AEC101/102 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
2 | JEDEC | JESD22-C101F | FI-CDM | Small/Large coin(disk) |
3 | ESDA | ANSI/ESD S5.3.1-2009 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
4 | AEC | AEC - Q100-011 Rev-C1 | FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
5 | JEITA | JEITA ED-4701/302 (Method 305C) | D-CDM | Small/Large coin(disk) + FR-4 board |
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