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MPI探針臺(tái)是一種專用設(shè)備，用于進(jìn)行磁粉無損檢測。磁粉無損檢測是一種常用的材料和零部件質(zhì)量檢測方法，通過利用磁場和磁粉的相互作用，檢測材料中的表面和近表面缺陷。結(jié)合了先進(jìn)的磁粉無損檢測技術(shù)和高效的自動(dòng)化操作，提供了一種快速、準(zhǔn)確的無損檢測解決方案。工作原理是利用磁場對(duì)被測物體進(jìn)行磁化，然后施加磁粉，通過觀察磁粉在缺陷處的聚集情況來判斷是否存在缺陷。探針臺(tái)通過控制磁場的強(qiáng)度和方向，以及磁粉的施加方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測物體的全面檢測。同時(shí)，探針臺(tái)配備了高分辨率的圖像采集系統(tǒng)和圖像處理軟...

射頻探針臺(tái)是一種用于測試和測量射頻電路性能的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于無線通信、雷達(dá)系統(tǒng)、衛(wèi)星通信等領(lǐng)域。它由各種射頻測試設(shè)備組成，可以提供精確的測量結(jié)果和分析數(shù)據(jù)，幫助工程師評(píng)估和改進(jìn)電路設(shè)計(jì)。1、通常包括一臺(tái)高頻信號(hào)發(fā)生器。這個(gè)發(fā)生器可以生成穩(wěn)定而準(zhǔn)確的射頻信號(hào)，并提供可調(diào)節(jié)的頻率、幅度和調(diào)制方式，以滿足不同測試需求。高頻信號(hào)發(fā)生器還可以用于模擬實(shí)際工作環(huán)境中的射頻信號(hào)，以驗(yàn)證電路在不同條件下的性能。2、還配備了一臺(tái)射頻功率計(jì)。射頻功率計(jì)用于測量輸出信號(hào)的功率水平，以確保電路在規(guī)定...

一、探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、背景介紹：無論是全自動(dòng)探針測試臺(tái)還是自動(dòng)探針測試臺(tái)，x-y向工作臺(tái)都是其核心的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。本文僅對(duì)自動(dòng)探針測試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹。三、特點(diǎn)分析...

一、半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。二、維護(hù)與保養(yǎng)：(1)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。(2)由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作...

射頻探針臺(tái)是一種用于電磁兼容性測試的設(shè)備，它通過測量電子設(shè)備或系統(tǒng)的輻射和傳導(dǎo)干擾水平，評(píng)估其對(duì)其他設(shè)備或系統(tǒng)的影響。廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、通信設(shè)備、軍事設(shè)備、航空航天設(shè)備等領(lǐng)域。它們可以用于測量各種設(shè)備或系統(tǒng)的輻射和傳導(dǎo)干擾水平，評(píng)估其對(duì)其他設(shè)備或系統(tǒng)的影響。在電子產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)和測試過程中，也扮演著重要的角色。一、工作原理是利用探針吸收電磁能量，將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)輸出，從而測量電磁輻射和傳導(dǎo)干擾水平。在測試時(shí)，將探針放置在被測設(shè)備或系統(tǒng)的表面，然后通過連接測試設(shè)備進(jìn)行測量，從...

一、應(yīng)用原理：(1)探針卡(probecard)探針卡是自動(dòng)測試機(jī)與待測器件(DUT)之間的接口,在電學(xué)測試中通過探針傳遞進(jìn)出wafer的電流。(2)探針臺(tái)(prober)因此測試對(duì)于檢驗(yàn)芯片的功能性來說是一項(xiàng)非常重要的工作,硅片測試能夠分辨一個(gè)好的芯片和一個(gè)有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導(dǎo)通狀態(tài)下漏源之間的導(dǎo)通電阻。二、發(fā)展背景介紹：(1)半導(dǎo)體檢測貫穿半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝三大流程。半導(dǎo)體制造工藝十分復(fù)雜，包含成百上千道工序，每一道出錯(cuò)都可能影響芯片功效。為了提...

射頻探針是我們?cè)谄瑴y試時(shí)不可少的工具，它在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時(shí)間縮短并且大大降低開發(fā)新產(chǎn)品的成本?；疽蠛凸ぷ髟恚?、射頻探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且...

ESD測試設(shè)備是專門測量電靜電放電所產(chǎn)生的能量、電壓和電流的儀器，具有以下特點(diǎn)：1、精確性：能夠測量靜電放電所產(chǎn)生的能量、電壓和電流，具有高度的準(zhǔn)確性。2、穩(wěn)定性：檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠，能夠長時(shí)間保持穩(wěn)定性。3、多功能性：可以測量不同類型和功率等級(jí)的ESD，如人體模擬、直接放電和線間放電等，具有多種測試功能。4、高質(zhì)量：采用高品質(zhì)的材料和先進(jìn)的制造工藝，具有高度的可靠性和耐用性。5、易于使用：操作簡單方便，用戶可以通過簡單的操作完成測試過程。6、自動(dòng)化程度高：具有高度的自動(dòng)化程度...