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emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測器來檢測由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對的復(fù)合而釋放特定波長的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號圖。撤去對樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對失效點(diǎn)的定位。對于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...

一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號發(fā)生器，在調(diào)試硬件時(shí)，常常需要加入一些信號，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時(shí)，就要在計(jì)算機(jī)上寫好一段程序，再用線連接計(jì)算機(jī)和用戶實(shí)驗(yàn)板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調(diào)試起來簡單快捷。二、設(shè)計(jì)原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...

探針臺(tái)溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái)，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時(shí)還可對樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點(diǎn)：1、可編程精密控溫?？瑟?dú)立控制，也可從上位機(jī)軟件控制；2、探針需開蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地；3、探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口；4、杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性...

MPI探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。它主要的功能就是針對半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測，這里面說的半導(dǎo)體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺(tái)配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測?？梢赃m用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查檢測等；可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時(shí)間和器件...

一、頻譜分析儀是研究電信號頻譜結(jié)構(gòu)的儀器，用于信號失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真等信號參數(shù)的測量，可用以測量放大器和濾波器等電路系統(tǒng)的某些參數(shù)，是一種多用途的電子測量儀器。二、工作原理是輸入信號經(jīng)衰減器直接外加到混波器，可調(diào)變的本地振蕩器經(jīng)與CRT同步的掃描產(chǎn)生器產(chǎn)生隨時(shí)間作線性變化的振蕩頻率，經(jīng)混波器與輸入信號混波降頻后的中頻信號(IF)再放大，濾波與檢波傳送到CRT的垂直方向板，因此在CRT的縱軸顯示信號振幅與頻率的對應(yīng)關(guān)系。三、分類：(1)傳統(tǒng)的頻譜分析儀...

高低溫半自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測量平臺(tái)。在不同測試環(huán)境、不同溫度條件下可對微結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體器件、微電子器件及材料進(jìn)行電學(xué)特性表征測試。可以對材料或器件進(jìn)行電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)（芯片、晶圓片、封裝器件）、MEMS、超導(dǎo)、電子學(xué)、物理學(xué)和材料學(xué)等領(lǐng)域。高低溫半自動(dòng)探...

半導(dǎo)體測試設(shè)備是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的電子測量儀器，半導(dǎo)體制造是人類迄今為止掌握的工業(yè)技術(shù)難度Z高的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，是先進(jìn)制造領(lǐng)域上的一顆鉆石。隨著半導(dǎo)體技術(shù)不斷發(fā)展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復(fù)雜。目前國際上7nm制程已進(jìn)入產(chǎn)業(yè)化階段，需要近2000道工序，先進(jìn)的制程和復(fù)雜的工序?qū)⒊掷m(xù)提升對于先進(jìn)設(shè)備的需求。集成電路檢測根據(jù)工藝所處的環(huán)節(jié)可以分為設(shè)計(jì)驗(yàn)證、前道量檢測和后道檢測。集成電路芯片的生產(chǎn)主要分為IC設(shè)計(jì)、IC前道制造和IC后道封裝測試三大環(huán)節(jié)，狹義上對集成電...

uf200探針臺(tái)是一種用于生物學(xué)領(lǐng)域的電子測量儀器，專為通用邏輯裝置而設(shè)計(jì)，支持對8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測試，支持200um薄片的測試，測試溫度范圍從室溫到150度。它不僅繼承了UF200的基本概念，同時(shí)進(jìn)一步采用了新技術(shù)的架構(gòu)?？梢蕴峁┚AOCR自動(dòng)識別，自動(dòng)控制、與測試機(jī)聯(lián)動(dòng)對8英寸及8英寸以下晶圓進(jìn)行自動(dòng)測試的篩選。一、產(chǎn)品特點(diǎn)：1、它可執(zhí)行5至8英寸晶圓的傳輸與針測。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多種選擇，可達(dá)成所有非業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)種類的晶圓針測。4、增加...