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簡要描述:ESD測試設(shè)備,ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)
HED-W5000M
晶圓ESD測試機(jī)
l 價格適中的多功能手動晶圓級測試儀。
l 專用軟件可用于泄漏測量和判斷。
l 適用于大多數(shù)類型的手動探針臺。
此設(shè)備是可以在Wafer level上進(jìn)行HBM,MM測試的設(shè)備
產(chǎn)品名/型號 | 設(shè)備說明 | 設(shè)備介紹視頻 |
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HED-W5100D | 全自動 Wafer ESD測試機(jī)從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電 | click |
HED-W5000M | 高性能半自動Wafer level ESD測試機(jī)通過操作探針座,可以輕松地決定兩個管腳之間的位置 | |
HED-W5000M-SP0 | Low Cost Wafer ESD Tester低成本、高性能 | |
HED-W5000M-WFC | Wafer level ESD測試機(jī)在對集成電路中保護(hù)電路工作參數(shù)的收集與分析上,雖然TLP測試機(jī)起到了很大的作用,但是在半導(dǎo)體制程細(xì)微化的發(fā)展中, 為了提高對ESD的抵抗性,保護(hù)電路需要更快的研發(fā)速度 |
HED-W5000M 晶圓ESD測試機(jī)
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